ST200 大规模集成电路测试系统

产品描述

ST200大规模集成电路测试系统，具备极高性价比，高吞吐量的集成电路测试系统平台，外形尺寸600mmx750mm x 600mm（TBD），最高配置512个通道，为实燕室开发或大批量生产的理想选择。ST200测试系统是以测试数字IC为主，整个平台采用机柜加电缆的结构设计，可兼容各种类型的机械手、探针台、以及外挂表等设备。ST200旨在帮助您最大限度地提高系统的正常运行时间、性能，大幅降低器件的测试时间，提高测试效率，同时最大限度地降低运营成本，支持广泛的业务。

咨询联系方式： 13810070614

基本特征:

1. 前沿创新性：提供开放的硬件平台和可自定义的应用软件，使得工程师轻松自定义电源测试流程
2. 测试高效性：从GPIB到USB、PXI总线，多总线兼容，自动化程度高
3. 功能扩展性：模块化的架构充分考虑到未来设备扩展的需求，功能模块扩充便捷迅速
4. 软件易用性：在保证强大功能的同时，系统软件对每个硬件模块提供独立的控制功能，支持分析验证
5. 成本经济性：软硬件架构保障从首次购入到后期使用、升级，都具极高性价比

目标器件:

74/54系列
8000系列
总线接口电路
各类存储器
SOC

FPGA
CPLD
光耦
DSP
MCU等

技术指标:


功能模块	指标名称	描述
VIS	数字电压源	16路PMU,电压范围:±11V；电压精度：0.1%；电流范围：±80mA;电流精度：0.1%； 16路DPS,电压范围:±12V；电压精度：0.1%；电流范围：±500mA;电流精度：0.1%；
DCHB64	高速数字通道板卡	高速数字通道板卡最高800Mbps的数字测试速率，40pS时钟定时分辨率，最大160M/pin测试向量深度，单板数字通道64pin，16pin/工位，系统最高配512 pin。
CCIB	数字电压表	具备128个5V继电器控制位，每通道最大驱动能力70mA。