FL2000 老化测试系统

产品描述

FL2000老化系统提供对MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存储器等超大规模集成电路的高低温动态老化测试，将老化与电参数测试结合，在老化过程中可测试不同温度区间器件的电参数特性。

咨询联系方式： 13810070614

基本特点:

• 1. 单板128路双向I/O通道，共用8个时钟边沿（6个驱动边沿，2个比较边沿）
• 2. 1Mbit/通道图形深度，失效存储深度1kbit/通道，只存失效
• 3. 支持图形向量微指令
• 4. 单板4通道PMU，提供 FV,FI,MV,MI功能，电压范围-3V~+12V；电流范围-80mA~+80mA
• 5. 数字通道驱动电压范围-3V~+12V；比较电压范围-3V~+12V
• 6. 数量可配置程控电源，可提供0.5~5V 30A 0.5~ 3.3 30A 3-24V 等
• 7. 提供各老化试验区电压、电流测试
• 8. 128个输出控制继电器
• 9. 试验温度范围：5℃～150℃；温度均匀度±3℃
• 10.RJ45网口数据传输与控制
• 11.高温老化试验箱分16个区域，支持同时老化测试16种不同类型、不同封装形式的器件
• 12.系统提供电源过压、过流和短路保护